Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT
Yazdır
1. 
Historical Evolution Toward Achieving Ultrahigh Vacuum in JEOL Electron Microscopes için kapak resmi
Historical Evolution Toward Achieving Ultrahigh Vacuum in JEOL Electron Microscopes
by 
Yoshimura, Nagamitsu. author.
https://doi.org/10.1007/978-4-431-54448-7
Format: 
Alıntı: 
Measuring instruments.
2. 
Micro Metal Forming için kapak resmi
Micro Metal Forming
by 
Vollertsen, Frank. editor.
https://doi.org/10.1007/978-3-642-30916-8
Format: 
Alıntı: 
Measuring instruments.
3. 
Ellipsometry at the Nanoscale için kapak resmi
Ellipsometry at the Nanoscale
by 
Losurdo, Maria. editor.
https://doi.org/10.1007/978-3-642-33956-1
Format: 
Alıntı: 
Measuring instruments.
4. 
Precision Nanometrology Sensors and Measuring Systems for Nanomanufacturing için kapak resmi
Precision Nanometrology Sensors and Measuring Systems for Nanomanufacturing
by 
Gao, Wei. author.
https://doi.org/10.1007/978-1-84996-254-4
Format: 
Alıntı: 
Measuring instruments.
5. 
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy için kapak resmi
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
by 
Shimizu, Kenichi. author.
https://doi.org/10.1007/978-3-642-03160-1
Format: 
Alıntı: 
Measuring instruments.
6. 
Nanoscale Devices - Fundamentals and Applications için kapak resmi
Nanoscale Devices - Fundamentals and Applications
by 
Gross, Rudolf. editor.
https://doi.org/10.1007/978-1-4020-5107-4
Format: 
Alıntı: 
Measuring instruments.
7. 
Photon-based Nanoscience and Nanobiotechnology için kapak resmi
Photon-based Nanoscience and Nanobiotechnology
by 
Dubowski, Jan J. editor.
https://doi.org/10.1007/978-1-4020-5523-2
Format: 
Alıntı: 
Measuring instruments.
Go to:Search Results
|
Search Facets
|
Top of Page