Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT
Yazdır
1. 
Future Information Technology için kapak resmi
Future Information Technology
by 
Park, James J. (Jong Hyuk). editor.
https://doi.org/10.1007/978-3-642-55038-6
Format: 
Alıntı: 
Kim, Cheon-Shik. editor.
2. 
MEMS Reliability için kapak resmi
MEMS Reliability
by 
Hartzell, Allyson L. author.
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6018-4
Format: 
Alıntı: 
Shea, Herbert R. author.
3. 
Principles of Terahertz Science and Technology için kapak resmi
Principles of Terahertz Science and Technology
by 
Lee, Yun-Shik. author.
https://doi.org/10.1007/978-0-387-09540-0
Format: 
Alıntı: 
Principles of Terahertz Science and Technology Lee, Yun-Shik. author.
4. 
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits Techniques for low emission and susceptibility için kapak resmi
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits Techniques for low emission and susceptibility
by 
Ben Dhia, Sonia. editor.
https://doi.org/10.1007/b137864
Format: 
Alıntı: 
/ Ben Dhia, Sonia. editor.