Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Dil
Yayın Yılı
-
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT
Yazdır
by 
Athreya, Krishna B. author.
Format: 
Alıntı: 
Measure Theory and Probability Theory Athreya, Krishna B. author.
by 
Abran, Alain. editor.
Format: 
Alıntı: 
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2009 and Mensura 2009
by 
Saunders, Craig. editor.
Format: 
Alıntı: 
Subspace, Latent Structure and Feature Selection Statistical and Optimization Perspectives Workshop