Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT
Yazdır
1. 
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces için kapak resmi
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
by 
Walkosz, Weronika. author.
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7817-2
Format: 
Alıntı: 
Spectrum analysis.
2. 
Frontiers of Ferroelectricity A Special Issue of the Journal of Materials Science için kapak resmi
Frontiers of Ferroelectricity A Special Issue of the Journal of Materials Science
by 
Lang, Sidney B. author.
https://doi.org/10.1007/978-0-387-38039-1
Format: 
Alıntı: 
Spectrum analysis.
3. 
Materials for Information Technology Devices, Interconnects and Packaging için kapak resmi
Materials for Information Technology Devices, Interconnects and Packaging
by 
Zschech, Ehrenfried. editor.
https://doi.org/10.1007/1-84628-235-7
Format: 
Alıntı: 
Spectrum analysis.